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技術文章
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    高性能X射線熒光測試儀
    型 號:XDV -SDD
    品 牌:德國菲希爾Fischer
    技術指標:可自動測量超薄鍍層和分析痕量元素
    達州高性能X射線熒光測試儀-XDV -SDD-德國菲希爾Fischer

    高性能X射線熒光測試儀,涂層測厚儀圖片,配有可編程XY平臺和Z軸,濟南涂層測厚儀培訓,可自動測量超薄鍍層和分析痕量元素


    儀器特點

    • 高級型號儀器,涂層測厚儀原理,具有常見的所有功能
    • 射線激發(fā)量的靈活性最大,電鍍層測厚儀,激發(fā)量可根據測量面積大小和光譜組成而改變
    • 通過硅漂移探測器,壁厚儀,在 > 10萬cps(每秒計數率) 的超高信號量下也可以正常工作,噴涂層測厚儀,而不會出現能量分辨率的降低
    • 極低的檢測下限和出色的測量重復度
    • 帶有快速、可編程 XY 工作臺的自動測量儀器
    • 大容量便于操作的測量艙

    典型應用領域

    • 測量極薄的鍍層,表面涂層測厚儀,例如應用于電子和半導體行業(yè)中
    • 痕量分析,涂層測厚儀多少錢,例如根據 RoHS、玩具標準、包裝標準對有害物質進行檢測
    • 進行高精度的黃金和貴金屬分析
    • 光伏產業(yè)
    • 測量 NiP 鍍層的厚度和成分 


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